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    晶硅電池隱裂檢PECVD鍍膜檢測模塊

    主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測

    檢測工位:
    鍍膜段


    檢測內容:
    色差、色斑、亮斑、臟污、過刻、油污、卡點燒焦、劃傷、崩邊、缺角、針孔、尺寸、白斑、手指印等

    下載資料
    參數性能

    產品優勢
    • 配備深度學習功能,將缺陷的標準交給生產商
    • 配備標準WEB、SQL接入口
    • 不停頓成像模式、不停頓剔除NG片
    • 靈活、可定義的分選標準
    • 定制化工程方案
    缺陷圖例
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